电子介电检测

检测项目

1.介电常数：低频介电常数测定，高频介电常数测定，温度依赖性测定。

2.介质损耗：损耗因数测定，损耗角正切测定，频率依赖性测定。

3.体积电阻率：常温体积电阻率，湿热体积电阻率，老化后体积电阻率。

4.表面电阻率：常温表面电阻率，污染表面电阻率，湿度影响测定。

5.介电强度：击穿电压测定，耐压保持时间，击穿路径分析。

6.绝缘电阻：直流绝缘电阻，极化指数，吸收比测定。

7.介电谱：宽频介电谱测量，弛豫过程分析，频率响应特性。

8.介电温度特性：温度漂移测定，热循环影响，热稳定性评价。

9.介电湿度特性：吸湿影响测定，湿热循环影响，表面导电变化。

10.电容稳定性：电容漂移，老化变化，工作寿命变化。

11.局部放电特性：起始电压，放电量，放电持续性。

12.绝缘耐久性：长期耐压，热老化影响，电场老化影响。

检测范围

电容器介质膜、覆铜板基材、印制线路板绝缘层、封装树脂、电子陶瓷基板、柔性电路基材、绝缘涂层、灌封胶、绝缘纸、绝缘套管、导热绝缘垫片、高分子薄膜、硅橡胶绝缘件、聚酰亚胺薄膜、环氧玻纤板、电子复合材料、电机绝缘漆、电缆绝缘层

检测设备

1.介电常数测量仪：用于测定材料介电常数与频率响应特性。

2.介质损耗测试仪：用于测定损耗因数与损耗角特性。

3.耐压测试仪：用于施加高电压并测定击穿与耐压能力。

4.绝缘电阻测试仪：用于测定材料直流绝缘电阻与极化特性。

5.体积表面电阻率测试仪：用于测定体积与表面电阻率变化。

6.宽频阻抗分析仪：用于获取介电谱与阻抗频率特性。

7.局部放电检测仪：用于监测放电起始电压与放电量。

8.温湿度环境试验箱：用于控制温湿度条件并测试介电特性变化。

9.热循环试验设备：用于模拟温度循环对介电性能的影响。

10.电容量测量仪：用于测定电容稳定性与漂移情况。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.